台灣團隊首創臨場顯微半導體檢測技術(圖)
國科會16日舉行「台灣團隊首創『臨場顯微半導體檢 測技術』直接揭示次世代電晶體微縮關鍵」研究成果 記者會，國立台灣大學物理學系教授邱雅萍（右3） 等人出席。 中央社記者趙敏雅攝 115年7月16日
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國科會16日舉行「台灣團隊首創『臨場顯微半導體檢 測技術』直接揭示次世代電晶體微縮關鍵」研究成果 記者會，國立台灣大學物理學系教授邱雅萍（右3） 等人出席。 中央社記者趙敏雅攝 115年7月16日