汎銓、光焱爆發矽光子專利之爭！宜特力挺光焱：非單一檢測設備專利能壟斷
近期矽光子檢測業界爆發專利侵權之爭，汎銓指控光焱侵害專利，對此，光焱合作夥伴宜特科技今日表示，矽光子技術非單一檢測設備專利能壟斷。
宜特表示，針對同業近期對宜特技術合作夥伴提起專利侵權訴訟，並指稱將進一步提告宜特科技，意圖藉此干預矽光子驗證分析市場秩序之舉，宜特科技今日嚴正聲明。
宜特一向高度尊重智慧財產權，然截至目前為止，宜特並未收到任何相關訴訟函件。對於同業在未經司法程序前，即試圖透過媒體發布資訊煙霧彈，假以法律手段干擾市場正常運作、阻礙產業創新之行為，宜特深感遺憾，並對此類不正當之競爭手段予以嚴正譴責。
宜特作為台灣「AI 新十大建設」與矽光子國家隊的重要一員，早在去年即受邀參與由國科會主辦之「臺灣矽光子 CPO-AI 生態鏈座談會」，並於聯合攤位向親自蒞臨指導的總統展現宜特在 AI 運算架構下的關鍵驗證實力。
宜特在生態鏈中扮演「電子產業醫學中心」的角色，憑藉與合作夥伴建構起「懂電也懂光」的一站式驗證能力，涵蓋電性測試、光學診斷及可靠度驗證體系，協助產業找病灶、抓根因，是確保矽光子技術從研發走向量產最關鍵的一哩路。國家級的肯定，充分證明宜特技術之正當性與不可或缺性。同業針對「單一檢測設備」之專利爭執，完全不影響宜特提供給客戶的整體服務價值，更無法取代宜特在驗證領域的專業判斷與分析實力。
宜特與合作夥伴的矽光子解決方案，旨在解決業界「光損定位」與「定量數據」難以取得的痛點。由於矽光子產業目前缺乏統一標準，宜特投入大量資源和客戶共同建立「可量產、可複製、可被信任」的驗證方法，絕非僅靠「單一檢測設備」即可達成。該解決方案不只整合了宜特30多年深厚的電性測試經驗與光學診斷know-how，更結合廠內數百台的專業量測與可靠度驗證設備，能提供精準數據，確保矽光子導入量產的穩定性。
此外，宜特之合作夥伴早已累積多年光量測方法的多項核心發明專利，且矽光子技術是 AI 時代的關鍵命脈，產業應共同致力於提升良率與技術標準。宜特認為，單一廠商不應透過「單一檢測設備」擴張解釋專利範圍，意圖干預整體矽光子與CPO市場發展，此舉將不利於台灣半導體供應鏈之國際競爭力。
目前宜特營運一切正常，所有矽光子相關驗證專案均穩定執行，財務與業務運作健全。針對任何損及宜特商譽、意圖影響投資大眾信心之言論，宜特將採取後續法律作為，這段期間不實報導造成股東權益受損，不排除提告求償，嚴正維護全體股東與客戶之權利。