AI晶片對良率零容忍!致茂曾一士:半導體量測從省成本變剛需
隨著人工智慧技術爆發性成長,半導體檢測與量測設備的戰略地位迎來轉變,致茂電子董事長曾一士今天表示,AI晶片整合先進製程、先進封裝、高頻寬記憶體與高功率運算等極度複雜的系統,任何一個微小零組件失效都會造成全盤皆輸,使得客戶對產品良率與可靠度的要求提升至零容忍的地步。這項變革驅動檢測與量測技術從過去輔助降低成本的經濟工具,徹底轉變為決定產品能否順利上市的剛性需求。
曾一士表示,自2000年以來全球半導體測試與檢測設備市場規模顯著擴張,近年受惠於AI產業需求暴增,設備營收斜率更出現明顯向上跳升。他強調,這絕非短期的熱潮,而是半導體產業走入量檢測新時代的典範轉移。
AI晶片的發展徹底翻轉了傳統產品開發流程,過去普遍採用技術成熟後再規劃產品的模式,如今轉變為企業在技術尚未完全成熟前,便先行定義下一代產品的效能、功率與系統規模,隨後再要求工程團隊克服材料、製程、散熱及封裝等技術瓶頸。
曾一士解釋,由於技術瓶頸直接發生在產品定義的階段,量測不再是事後驗證產品好壞的檢驗手段,而是直接嵌入在技術與製程研發階段的關鍵反饋機制。若研發人員無法精準量測出關鍵參數,技術便無從改善與實現。因此,現代產品技術與製程技術的突破,已完全高度仰賴量測技術的突破。
面對全球半導體競爭加劇,曾一士認為台灣已具備世界級半導體製造中心的實力,下一步應把握契機提升為製程技術與創新中心,而量測科技正是推動轉型升級的關鍵核心。為此,他針對政府政策提出三大具體建議:第一,吸引並鼓勵學研界投入高階量測的基礎科學研究,如物理、數學、材料與資料分析等,為高階技術落地奠定深厚根基;第二,規劃以高階量測為主體的獨立科技研發計畫,避免資源與範疇受限於附屬計畫;第三,建立跨產業合作的場域驗證機制,協助設備商與製造業在台灣本地進行海量數據與實體產線驗證,加速高階技術落地普及。
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