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科技

降低翹曲 Warpage 變形量就靠低溫焊接 LTS 製程

科技新報

更新於 2021年07月27日17:55 • 發布於 2021年07月27日12:00

IC 上板 SMT 後,可靠度試驗卻過不了,原來是翹曲(warpage)導致空焊、早夭等現象,是否有特殊製程,可以降低 warpage 變形量呢?

https://youtu.be/x0hV0TztPtE

進行 IC 設計時,最怕就是 IC 晶片本身品質沒問題,但是當 IC 上板 SMT 後,卻過不了後續的驗證。在宜特板階可靠度(BLR)實驗室,就時常看到許多客戶有這樣的問題。而近期,宜特看到最多的就是上板後的翹曲(warpage)問題,導致後續可靠度發現早夭,嚴重到甚至須將產品退回到最初的IC設計階段,曠日廢時。

為什麼翹曲(Warpage)導致後續可靠度問題,近期發生頻率這麼高呢? 宜特板階可靠度(BLR)實驗室發現,系統單封裝(System in a package)已成為現今趨勢,各種不同材質、不同功能的晶片整合進同一封裝,這樣的封裝元件使用的材料相當複雜且多元,堆疊在一起時,因材質本身熱膨脹係數不同(CTE)就會產生翹曲(warpage),成為表面黏著製程(Surface mount technology,簡稱SMT)良率最大挑戰。

 

圖解何謂翹曲?

▲圖一:先進製程晶片元件或多或少都會有翹曲現象,變形量符合 IPC 規範控制在一定程度內,都不會影響後續元件上板品質(右圖出處: Akrometrix)

傳統方式-透過模擬數據調整錫膏量,微緩解焊點拉伸擠壓

 

▲圖二:SMT 上板前,可針對元件與 PCB 進行模擬分析,預先了解翹曲(warpage)情形(圖出處: Akrometrix)

針對預防翹曲造成空焊現象,宜特板階可靠度(BLR)實驗室的傳統做法是,模擬確認翹曲(warpage)數據,調整錫膏印刷鋼板設計及回流焊溫度,藉此減少因翹曲(warpage)造成空焊及短路問題的機率(圖二)。依據此方式,宜特已成功替多家廠商克服 PCB 或 IC 翹曲(warpage)的焊接問題(

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