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一片材料當兩種用,韓大學靠「厚度」讓二硒化鉑同時是半金屬與半導體

科技新報

更新於 07月17日15:17 • 發布於 07月20日07:40

韓國團隊近日取得次世代半導體材料領域重大進展,成功單一 2D 材料打造出能讓電流順暢通過的特殊結構。此舉有望為長期困擾晶片微縮技術的「接觸電阻」問題,提供全新的解決方案。

此項研究由韓國科學技術院(KAIST)材料科學與工程學系的洪承範教授團隊,聯同 KAIST 的 Kibum Kang 教授團隊與成均館大學 Sung Beom Cho 教授團隊共同完成。

團隊指出,傳統晶片高度仰賴金屬電極將電流導入半導體,但在兩種材料的交界處往往會產生阻抗。這不僅會造成能量損耗與發熱,更成為限制晶片進一步微縮、提升效能的絆腳石。

為突破此限制,團隊改變了傳統思路。他們直接在單一片二硒化鉑(PtSe₂)薄膜,同時建構出半金屬區與半導體區。

由於 PtSe₂ 的電子性質會隨著「厚度」而改變,而較厚的區域呈現半金屬特性,較薄的區域則表現為半導體。這使得兩種功能區域能在同一材料內自然銜接,取代了過去由兩種不同材料強行接合的做法,完美構築出無縫的一體化結構。

為了確認電流是否真能無阻穿越邊界,研究員結合原子力顯微鏡與平面電流偵測技術,在奈米尺度下直接觀測電荷的傳輸軌跡。

實驗結果顯示,電流從半金屬區進入半導體區時,並未出現被阻擋或偏離路徑的情況,證實這種單片式介面確實能維持連續導電。此外,團隊對半導體區施加電場,成功控制電流通斷,顯示結構不僅能導電,更具備電晶體運作必須的「開關」功能。

(Source:KAIST

團隊表示,這項創新成果有望為人工智慧(AI)處理器、低功耗裝置與未來的邏輯晶片,提供極具潛力的材料設計新方向。不過,團隊也坦言,這項技術目前仍面臨可靠度、電路整合與大規模製造等實務挑戰,後續能否順利走向商業化與實際應用,仍有待進一步的工程驗證。

(首圖來源:shutterstock)

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