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科技作弊遇剋星!分科測驗啟用金屬探測 首日查獲考生攜AI眼鏡應試

CTWANT

更新於 14小時前 • 發布於 14小時前 • 陳頡
115學年度大學分科測驗今天(13日)登場。(示意圖/翻攝自PhotoAC)

115學年度大學分科測驗今天(13日)登場,大考中心今年首度導入電子設備及金屬探測防弊措施。考試首日即發現違規案例,其中物理科考試期間查獲1名考生攜帶AI眼鏡應試。大考中心表示將進一步蒐集相關資料,送交考試委員會審議,並依簡章規定處理。

大考中心主任張新仁指出,因應科技設備快速發展,今年分科測驗新增電子及金屬探測相關防弊措施,首日考試即發揮作用。據悉,考分區在物理科考試時,利用相關設備發現1名學生使用AI眼鏡,目前已展開調查,將待完整釐清事證後,提交考委會討論,依規定做出處分。

張新仁提醒考生,考場規則明確禁止攜帶或使用具有通訊、儲存或影像功能的電子設備,考生切勿抱持僥倖心理,以免因違規影響考試結果。

除了AI眼鏡事件外,化學科考試也查獲9件違規案件。其中7件為考生未攜帶有效應試證件正本,且未能在規定時間內補送;另有1名考生在考試期間明確使用手機,另名考生則攜帶已關機手機進入考場。

加計物理科違規案件後,截至目前分科測驗首日違規件數已累計達32件。大考中心表示,將於當日考試結束後統整各科違規情形與案件樣態,並對外公布相關資訊。

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