分科測驗啟用金屬探測 抓到AI眼鏡

本報綜合報導

為防止電子舞弊，一一五學年分科測驗首度啟動金屬探測。大考中心十三日啟用金屬探測器，查獲物理科考試時有考生違規攜帶智慧型眼鏡，還有考生違規用手機拍攝試題本，最重將取消考試資格。

分科測驗第一天考試，第一節考物理，缺考率百分之八點八七；第二節化學缺考率百分之九點零二、第三節數甲缺考率百分之九點二五、第四節生物缺考率百分之十二點四九。

分科測驗今年首度啟用電子或金屬探測器，試務人員可於必要時進行電子或金屬探測，查驗考生是否攜帶或使用違反試場規則的行動電話或穿戴式裝置。

物理科考試時，監試人員發現有一名考生疑似配戴智慧型眼鏡（ＡＩ眼鏡）；但考完後詢問考生，考生否認，經由金屬探測器查驗後發出聲響，確認是智慧型眼鏡。具體細節還在進一步釐清，之後也會送交考委會討論議處。

另根據考區回報，化學科考試時有一名考生違規使用手機拍攝試題本，被監試人員發現後制止。監試人員在考完後請考生解鎖手機，確認考生確實有拍攝試題本，將提交考委會討論議處。

大考中心主任張新仁說明，不是每名考生進考場都須進行金屬探測。若考生應試時被發現將行動電話或穿戴式裝置攜帶入座或使用，當考生配合交出就不需金屬探測；若考生拒不配合交出或不配合查驗時，每個考區都會配置金屬探測器，將等考生考完後帶至試務辦公室查驗。