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汎銓25日正式提告專利侵權 再發聲明籲光焱科面對法律

信傳媒

更新於 03月27日18:47 • 發布於 03月27日23:33 • 陳逸平
汎銓董事長柳紀綸表示光焱科技侵害汎銓所擁有之中華民國第I870008B號「光損偵測裝置」發明,已提告。(攝影/鄭國強)

汎銓(6830)發起對光焱(7728)的專利侵權訴訟,針對光焱科技股於26日對外發布之相關聲明內容,汎銓對外回應。27日光炎股價已經回穩,小漲1.2%收在756元,反而是汎銓大跌8.33%收在434.5元。

汎銓公司表示,已於2026年3月25日上午正式向智慧財產及商業法院提起民事訴訟,主張光焱科技侵害汎銓所擁有之中華民國第I870008B號「光損偵測裝置」發明專利,並依法請求相關侵權行為之停止及新台幣2億元之損害賠償。本案已進入司法程序,相關事實與法律爭點,將依法由法院審理並作出最終判斷。

汎銓告光焱,侵害其「光損偵測裝置」專利

汎銓強調,公司長期深耕於半導體先進製程材料分析、AI晶片分析平台及矽光子檢測技術領域,相關核心技術係投入大量研發資源所累積之成果。「光損偵測裝置」為汎銓重要關鍵技術之一,已取得台灣、日本及美國發明專利,並實際應用於矽光子元件光損量測與定位分析,在高速光通訊、AI及光電整合等應用領域具備高度技術價值與產業重要性。

汎銓董事長柳紀綸表示,矽光子主要使用紅外線波段,最常用為1310奈米 和 1550奈米,所以要偵測這波段的漏光一定要用能感測這波長的偵測器,也就是IR detector(IR CCD)。用 IR CCD 裝置 量測矽光子 就是汎銓的專利範圍。柳紀綸籲光焱積極面對法律問題,若無法收光就無所謂的新技術舊技術問題,與侵權專利爭議無關。

汎銓呼籲光焱科以誠實態度面對司法程序

對於光焱科技所發布之相關聲明,汎銓基於尊重司法程序原則,不就個別技術爭議或其單方面說法進行逐一回應。關於雙方技術差異、是否構成專利侵權,以及相關專利權利範圍之認定,均屬專業法律與技術判斷範疇,應回歸智慧財產及商業法院依據具體事證進行審理。汎銓呼籲相關當事人以誠實態度面對司法程序。

汎銓提起本次訴訟,係基於維護自主研發成果與智慧財產權之正當權益,亦是對台灣整體科技產業之價值與重要性,以及全體股東與利害關係人負責之必要行動。汎銓一向重視技術創新與智慧財產保護,並致力於建立健全之產業競爭環境,期望透過合法途徑確保技術成果不受不當侵害,汎銓重申,相關爭議已正式進入司法程序,後續將尊重法院審理結果,並依法保障公司及全體股東之合法權益。

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